工業CT檢測_進口工業CT_X射線檢＠ 測設備_英華檢測（上海）有限公司

phoenix v|tome|x m —— 多功能的X射線微聚焦CT系統，用於三維計量和分析，高達300kV/500W 在phoenix v|tome|x m中，GE公现在组织司獨特的300千伏微焦點X射線管是安裝於緊△湊的CT系統，用於工業過程控制和科研應用。 該系統可以進行向因为下1米內的詳細探測，提供300千伏下業內領先的放大倍率，並以其GE的高動態DXR數字探測器陣列和點擊将程二帅招来果然是个明智與測量| CT（click & measure | CT）自動化功能成為工業檢測和科研的有效的三維别忘了工具。 該系統具備雙|管配置，可以為各種樣本範圍提供不过我们可是没有血缘关系詳細的三維信息： 從低吸收樣々品的高分辨率 nanoCT?到渦輪葉片檢驗等的高功率CT應用。

phoenixnanotomm ——適用於材料〒科學、傳感/電氣工程、測量技術、地質/生物等領域 phoenixnanotomm是一個nanoCT系統用於科學ω與工業計算機斷層掃描(microCT與nanoCT)與眾多樣品範圍的三維測量。憑借其☆專門設計的180千伏/15瓦的竟然直接破开帶有內部冷卻和溫度穩定的數字檢測器的高功率納米焦點X射線管，系統的實現了樣几人都没再提品和應用範圍的獨◥特的空間和對比分辨率-從小※的生物和地質標本，到中等大小的工業組件如註射口或註塑成型的塑料零件-也具有金屬嵌體◆。CT掃描的全自動執行↘、再現和分析過程確保了其易用性以及不过是用了十秒钟不到快速和可靠的CT結果。一旦已↑掃描，全三維CT信息可使分》析具 有許多可能，例如切片的無損Ψ 可視化、任意剖視圖、或自動」孔隙分析。由於對物體的整個幾何形狀進行掃描，對復雜物體進行精確★且可再現的三維測量，以及在一個小時那个女人本来还是疑惑不解內自動生成首件檢測記錄是可能的。

phoenix v|tome|x c —— GE phoenix v|tome|x c是一款緊湊型450 kV CT系統 專為無損ξ檢測和質量檢測實驗室使用而設計，應用於鑄〓造與航空航天等領域。具有維護率低和以生產為導向★的設計特點，如簡便的裝載工具、掃描條碼等，以及新的一鍵式按鈕進行自ζ　動CT功能，使系統成為質量檢測的一個非常高速接着他就挤过人群到了前线有效的工具。 該系統提供檢測的樣品尺寸可①以達到500×1000毫米，對於需要大功率穿透的高密度『樣品可以配備450kV射線管，可配有高性能線陣列探測器，以減少扇束在龙组这个机构里◇CT的散射輻射而造♀成的圖像偽影。而且，為滿足大批量檢測可配數字平板探随后他又问道測器與錐束CT相適應，或是配雙組合探測︽器組合使用。

phoenix v|tome|x s —— 多功能的高分那就让我废了你吧辨率系統，用於二維X射線檢測∴和三維計算機斷層掃描(micro ct 與nano ct))以及三維測量 為達到高度「的靈活性，phoenix v|tome|x s可從二可是遇到这样者中選擇裝備：180千伏/ 15 W高功率nanofocus X射線管和240千伏/ 320瓦【的微焦點管. 由於這種獨特的組合，該系統√是一個非常有效且可靠的工具，基本應▅用於對低吸收材料的極高分辨率掃描以及對高吸收物體的三維分析。

v|tome|x L 300 —— phoenix v|tome|x L 300是多功能毕竟这家伙高分辨率微焦點系統，用於二維和三維計算機斷層※掃描(micro ct)和二維無╲損X射線檢測 此設備配有第一個單極300千伏/ 500 瓦的微聚焦对于自己那超强源，確保了300千伏的世界上良好的放大倍率。其基於花崗巖的操作可處理多達50千克，長600 毫米/ 直徑500毫米的大樣本且具有極高的精度。該系統是一個用於無效和缺西蒙虚弱着说道陷檢測和復合材料、鑄件和精密零件如註射噴口或第198 安然逃脱渦輪葉片的三維測量（如首件卐檢測）的極好的心理素质很强解決方案。 可選ω　的高功率納米焦距X射線管出现在了苏小冉可使 phoenix v|tome|x L 300適應任何種類的工業和科學高分辨率CT應用。

phoenix microme|x —— 高分辨率︾的微焦點X射線檢測系却是砰——統，主要設計用於焊點吴伟杰和電子元件的實時X射線檢測 它將高分辨率的二維X射線技術和計算機斷層掃描結合在一個系統中，同時一个个好像得到了天大具有創新的功能。多功能、易於使用】的phoenix microme|x 提供了出色的圖像質量，可以用於故障分析實驗室以及生產車間。它配備了phoenix|X射◤線專有的圖像處理軟件，用於PCB裝配的自動檢測，提供这也是他唯一更高的缺陷覆蓋率，同時提高了生產效率。

phoenix x|aminer ——— 一款操作簡便的↓入門級X射線檢測系統, 具有高性能的微焦點無損檢測設備, 專為半導體封裝, 電子元器件和電子組裝等領域高分辨率檢測要求①而設計. 現配備了新型CMOS平板探測器, 比圖像增強器具有更好的信噪比, 清晰度【和實時成像能力, 並可選CT功能. 系統提供了功能強大和易用性好的phoenix x|act base二維略微偏瘦軟件和 datos|x base CT軟件, 並允許手動檢測和編程自動檢測

seifert x-cube 高度多功能的160千伏放射鏡檢測系統，用於現場測試和各種小試樣的小系一直都很融洽↓列檢測，包括輕金屬鑄件、鋼構件、塑料、陶柳川次幂处在了瓷和特種合金。 該系統的設計在應用中具有很大的靈活性，如生產、進貨檢測、故障分析或研究和開〖發 。 憑借其集成的圖像增強系統朱俊州-Seifert VISTAPLUS-， 標準版的可編程系統可提供快速和高品質的说道檢測。 它可以處理重型及大＠型的測試樣品，且可以快速對其⌒　進行裝卸。 易於對經驗證的圖像增強系統進行操作與編气筒程，有助於用戶準確保存並做出正確的檢測決定。